XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于環境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用，也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技術，可在高溫、高壓條件下進行重量吸附分析，也可與其他商業化的吸附微量天平儀器聯用。