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                質子傳遞反應飛行時間質譜儀

                簡要描述:PTR-TOF 6000 X2 質子傳遞反應飛行時間質譜儀具有測量速度快,靈敏度高,量測量不需要定標,無需復雜的樣品前處理等優點,已經廣泛應用在環境污染監測、醫學診斷、食品成分和質量檢驗等領域。

                • 產品型號:PTR-TOF 6000 X2
                • 廠商性質:代理商
                • 更新時間:2023-11-22
                • 訪  問  量:3644
                詳細介紹
                品牌其他品牌最小檢測分壓0.0001ppb
                檢測限0.0001ppb質量數范圍1 ~ 10000, 可調amu
                價格區間面議產地類別進口
                應用領域環保,化工,石油,能源,電子

                PTR-TOF 6000 X2 質子傳遞反應飛行時間質譜儀介紹:

                IoniconAnalytikGmbH的PTR-TOFMS儀器使用一種軟離子化技術,利用H2O比絕大多數VOCs的質子親和力小的特性,H3O+作母離子與作為質子接受體的VOCs發生質子轉移反應,常見的空氣成分如N2,O2,Ar等,其質子親和力都小于水,不能和H3O+發生質子轉移反應,因此不會干擾痕量化合物的檢測和定量,該技術對痕量化合物檢測的低檢測限達到幾個pptv。SRI離子源可以在H3O+、O2+、NO+和NH4+之間切換反應離子。PTRTOFMS具有測量速度快,靈敏度高,量測量不需要定標,無需復雜的樣品前處理等優點,已經廣泛應用在環境污染監測、醫學診斷、食品成分和質量檢驗等領域。

                PTR-TOF 6000 X2 質子傳遞反應飛行時間質譜儀結合了新一代的ION-BOOSTER離子漏斗和六極桿離子導流ION-GUIDE,采用Ionicon的high-resolutionioniTOF高分辨率長飛行時間質譜,以及TUR-E/N的質子轉移反應離子源,給您好的PTR-TOFMS體驗。

                Ionicon一直致力于不斷開發各種功能附件,滿足用戶多樣化的科研需求。

                SRI:擴展試劑離子源NO+,O2+和NH4+擴展VOCs的檢測范圍

                FastGC:快速氣相色譜,區分同分異構體

                AutoSampler:固體/液體散發的VOCs檢測,多可達270樣品位的全自動分析

                Multiplexing:多路進樣,全自動分析

                CHARON:氣溶膠中的化學成分在線分析,由此PTR同時具有氣相與顆粒相VOCs分析

                LCU:液態校準,及液體中的VOCs檢測

                BET:呼吸氣VOCs分析,環境與健康

                CustomBuilt:根據您的需要,基于PTR-MS的解決方案

                這所有的一切都是建立在Ionicon30年的PTR-MS經驗,超過400臺的PTR安裝使用;不斷的技術革新與進步,為用戶提供更合適的儀器;確保用戶能從“投資"中得到回報和成果。

                性能好的PTR-TOFMS X2:ION-BOOSTER離子漏斗和六極桿離子導流ION-GUIDE

                VOCs連續實時定量分析

                無需樣品制備,直接空氣進樣

                PTR超級軟離子化技術,避免分子碎裂

                TRU-E/N™離子源,H3O+,NH4+,NO+,O2+

                響應時間小于100毫秒

                簡單易用、穩定可靠的在線VOCs質譜儀


                 飛行時間二次離子質譜原理主要包括以下幾個步驟:  
                1、次級離子產生:首先,將樣品放置在高真空的分析腔中。通過聚焦的初級離子束(通常為高能的質子、氘或重氮離子)轟擊樣品表面,使樣品表面的原子和分子發生碰撞和激發。在這個過程中,部分原子和分子從樣品表面逸出,形成帶有正電或負電荷的次級離子。  
                2、次級離子加速:次級離子在分析腔中被均勻的靜電場加速,使其獲得一定的動能。加速后的次級離子具有與其質量和電荷成正比的速度。  
                3、飛行時間測量:次級離子在分析腔中沿直線飛行,最終擊中位于一定距離處的探測器。由于次級離子的速度與其質量和電荷成正比,不同質量的離子在飛行過程中具有不同的飛行時間。通過測量次級離子從加速區到探測器的飛行時間,可以計算出它們的質量和電荷比(m/z)。  
                4、質譜圖譜繪制:根據次級離子的飛行時間,將其按照質量和電荷比(m/z)分布在質譜圖上。質譜圖中的每一個峰值代表了一個特定的次級離子,其強度與該離子在樣品表面的濃度成正比。  
                5、數據處理與分析:通過對質譜圖的解析,可以獲得樣品表面的化學組成信息。同時,通過對初級離子束的掃描和探測器信號的同步采集,可以實現對樣品表面的空間分辨成像,從而揭示材料表面的微觀結構和組分分布。
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